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1.采用整體設計 - 即使在高功率下也能實現小焦斑測量，因此可以進行高分辨率的快速測量2.X射線源結合了封閉式和開放式微焦點X射線管的優(yōu)點3.停機時間和運營成本最小化4.與傳統三坐標測量機一樣，整個設備的維護周期僅為一年5.OnTheFly 斷層掃描和實時重建可實現快速測量6.符合 VDI 2617 標準的校準可獲得可靠且可追溯的測量結果，可選配 DAkkS 證書技術規(guī)格設計類型帶計算機斷層掃描傳感器的 3D CNC 坐標測量機測量范圍最大工件尺寸 D = 289 mm / L = 456 mm（取決于工件的縱橫比）準確性允許的長度測量偏差高達 3.5 µm
Extol 現場三坐標與renishaw雷尼紹Equator?比對儀相比?，F場三坐標忠實于Aberlink的創(chuàng)新傳統，Extol是使用delta（數控加工機制）機制的三坐標測量機。 其專為堅固性和可靠性而打造的設計，使得Extol三坐標測量機無論是 在機床旁、制造車間或是專項精測間都能夠全天候24小時運行。 五個溫度傳感器同時監(jiān)控機器和環(huán)境溫度，確保Extol 能夠在不受控制 的環(huán)境中運行，并報告測量結果，就好像它們是在20℃.下進行的一 樣。如果溫度變化速度不利于合理的計量實踐，軟件即發(fā)出警報。 Extol 的自動工具補償校準與Aberlink 3D軟件的完美配合，使其能夠被 運用在制造環(huán)境中的的全自動進程的一部分。Extol的人體工程學也是一個重要的設計因素。它不僅可以快速方便地 進行單次性檢測，而且可以進行批量檢測或便于自動裝載。與前代Xtreme相比，Extol的測量體積更大，總占地面積更小，可以精確定位 在需要測量的位置。 Extol三坐標測量機穩(wěn)健、準確、可靠，是自動驗證關鍵部件零件質量的完美解決方案。?全密封循環(huán)軸承，在機床市場上得到驗證，顯著提高平滑度和抗灰塵能力。 ?直接耦合的皮帶傳動系統消除了齒輪箱的需要和任何相關的齒隙問題。 ?瑞士制造的直流電機和新的Deva運動控制系統提供了車間三坐標測量機檢查所需的可靠性。 ?光滑的皮帶傳動和線性軸承保障了長觸針在使用時，不因振動而出現誤觸發(fā)。 ?自動刀具補償校正和自動化選項使得一體化能完全融入到全自動生成車間 。 ?自動溫度補償允許Extol在不受控的環(huán)境中操作運行并確保報告的測量結果與在20°C下測量的結果一樣。 ?Extol采用應變儀技術，可支持TP200Bp它不顯示大范圍的特點，使其成為高精度應用的理想選擇。此外，與TP20相比...
TRIMOS V9數顯測高儀是高精度的測高儀，廣泛的應用于計量室、車間現場。TRIMOS V9同V7一樣，盡管這都是一臺全新的測量儀器，但TRIMOS一直以來秉承著一個理念，儀器使用簡單，用戶短時間內就可完全掌握。TRIMOS為V9測高儀配備的觸摸顯示器擁有技術，簡化了使用界面。并且極少數的功能鍵卻滿足了所有測量要求，從而為用戶提供了一個簡潔明了的操作界面。從側面插入測頭這一方式，為TRIMOS帶來了非凡的影響。其具有極強的靈活性、堅固性、使用范圍可達到驚人的400mm的傳感器進行測量。V9測高儀配備了革命性的技術，采用手動與電動一體操作手輪。用戶可以相互切換模式。 ?測量范圍400~1100mm?特殊的精度等級?電子測力調節(jié)?手動或者自動位移操作?2D模式、編程測量、數據統計?大量程附件?所有調整均無需工具?RS232和USB接口
LABC-Nano測長機采用與德國Heidenhain 合作定的良好精度新型光柵測量系統，光柵尺長350毫米?；捎锰胤N材料鑄造，儀器穩(wěn)定可靠，自動測量，速度快、精度好，可有減少除手動操作誤差。計量室用于檢定校準各種量檢具如：量塊、光面（螺紋）環(huán)塞規(guī)、光滑錐度環(huán)塞規(guī)、螺紋錐度環(huán)塞規(guī)、軸承內外滾道、花鍵量規(guī)、卡規(guī)、校準桿、尺類、表類。LABC-Nano全自動測長機主要特點：●測量范圍 350 mm ●光柵尺長度 350 mm ●測量力 0 -12N 連續(xù)可調●頭座移動（X）CNC全自動●工作臺Y軸、Z軸 CNC全自動測量找拐點，可有效減少手動操作誤差 能工作臺承重60kg●Heidenhain高精度新型光柵測量系統●內置溫補探頭，實時補償 LABC-NANO技術參數：（詳細參數請撥打400-711 6391 / 010-80470808）型 號LABC-NANO350LABC-NANO600LABC-NANO1100測量范圍（光柵尺長度）350 mm350mm350 mm應用范圍0-350 mm0-600 mm0-1100 mm應用案例：
CETATEST 815型是一款全自動差壓泄漏測試儀，用于檢測生產過程周期時間內的未密 封部件。將由泄漏而引起的試驗部分容積內的壓力衰減與基準容積內的壓力做比較（差 壓法）。